「新製品情報誌」2026年4月号掲載 資料請求No.1260402102
光・電信号を同時検査
本製品は光電子集積回路(PIC)ウエハ検査に対応。光信号と電気信号を単一治具で測定でき、測定環境の統合やデータセンター向けフォトニクスデバイスおよび光電融合型デバイスに求められる評価工程の効率化を実現。
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「新製品情報誌」2026年4月号掲載 No. 1260402102
「新製品情報誌」2024年9月号掲載
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