ホーム
>製品情報
>計測・試験・光学
>計測機器
>白色干渉計(Micro-Epsilon Japan株式会社)

製品情報

「新製品情報誌」2025年12月号掲載
資料請求No.1251201501

計測・試験・光学
計測機器

インライン使用できるウェハ厚さ測定に

白色干渉計

Micro-Epsilon Japan株式会社
大阪府吹田市江坂町1-23-43ファサード江坂ビル10F1003号室

 「IMS5420-TH24」はIR光源によりウェハの厚さを片側から1つのセンサで測定でき、ベアから0.006Ω・cmのハイドープウェハの厚さ測定が可能。このため研磨後や成膜後のウェハの厚さ測定に適する。

その他製品情報

Micro-Epsilon Japan株式会社

「新製品情報誌」2025年12月号掲載
No. 1251200405

「新製品情報誌」2025年12月号掲載
No. 1251202203

「新製品情報誌」2025年12月号掲載
No. 1251201501

「新製品情報誌」2025年11月号掲載
No. 1251104008

製品情報検索

資料請求番号

キーワード


製品名、企業名その他のキーワードをスペース区切りで3つまで入力できます(AND検索)。

製品分類

掲載号

月号〜月号

※掲載後2年間分の情報を検索できます。
  • THK 最先端の自動化
ティ・アンド・シー・テクニカル UV酸化型オンラインTOC(全有機炭素)連続測定器