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>白色干渉計 高精度厚さ測定センサ(Micro-Epsilon Japan株式会社)

製品情報

「新製品情報誌」2026年3月号掲載
資料請求No.1260301102

電子機器・部品
センサー

1μmのガラス・フィルムの厚さを測定

白色干渉計 高精度厚さ測定センサ

Micro-Epsilon Japan株式会社
大阪府吹田市江坂町1-23-43ファサード江坂ビル10F1003号室

 「IMS5200-THシリーズ」はナノメートルの分解能で1μmのガラスやフィルムの厚さを最大24kHzで測定でき、センサは高真空容器内に設置可能。オプションで最大5層まで測定ができる。

その他製品情報

Micro-Epsilon Japan株式会社

「新製品情報誌」2026年3月号掲載
No. 1260304208

「新製品情報誌」2026年3月号掲載
No. 1260301102

「新製品情報誌」2026年2月号掲載
No. 1260202907

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