製品情報
「新製品情報誌」2022年9月号掲載
資料請求No.1220902101
- 計測・試験・光学
- 検査・試験
キズの色分離で微細な欠陥も見逃さないOneShotBRDF(R)光学検査技術
- 東芝情報システム株式会社
- 神奈川県川崎市川崎区日進町1-53
「OneShotBRDF」は、独自の散乱光検出技術によって、今まで熟練検査員による目視検査に頼っていた微細なキズや異物の検知を、ワンショットで撮像・検出できる光学検査技術。キズにより発生した散乱光のわずかな変化を”多波長同軸開口フィルタ”を通して撮像することで、微細な欠陥も容易に認識できる。通常のカメラでは識別が困難なミクロのキズや凹凸も可視化でき、認識困難なキズを色分離して表示するため、素早く高精度な検査が可能。金属、プラスチック、ガラスなど幅広い製品の検査に活用でき、検査コストの低減と品質向上に貢献。