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製品情報

「新製品情報誌」2018年4月号掲載
資料請求No.1180406805

計測・試験・光学
検査・試験

欠陥を高速で検出 パワーデバイス用

ICチップ外観検査装置

株式会社安永
三重県伊賀市緑ヶ丘中町3860

 表裏、側面にマルチアングルLED照明を当て6面を高精度カメラで検査するパワーデバイス用のICチップ外観検査装置「CI4000」。ICチップの異物、変色、傷などの欠陥を高速で検出できる。

その他製品情報

株式会社安永

「新製品情報誌」2018年4月号掲載
No. 1180406805

検査・試験
欠陥を高速で検出 パワーデバイス用
ICチップ外観検査装置
株式会社安永(三重県伊賀市緑ヶ丘中町3860)

「新製品情報誌」2018年2月号掲載

検査・試験
高速・高精度に検査できる
3D光学式外観検査装置
株式会社安永(三重県伊賀市緑ヶ丘中町3860)

「新製品情報誌」2015年11月号掲載

検査・試験
2D/3D欠陥検査を一体化
小型検査ユニット
株式会社安永(三重県伊賀市緑ヶ丘中町3860)

「新製品情報誌」2015年11月号掲載

検査・試験
2D・3D検査1台で対応
基板外観検査装置
株式会社安永(三重県伊賀市緑ヶ丘中町3860)

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