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「新製品情報誌」2018年4月号掲載
資料請求No.1180406805

計測・試験・光学
検査・試験

欠陥を高速で検出　パワーデバイス用

ICチップ外観検査装置

株式会社安永
三重県伊賀市緑ヶ丘中町3860

　表裏、側面にマルチアングルLED照明を当て6面を高精度カメラで検査するパワーデバイス用のICチップ外観検査装置「CI4000」。ICチップの異物、変色、傷などの欠陥を高速で検出できる。

ICチップ外観検査装置
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