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製品情報

「新製品情報誌」2017年11月号掲載
資料請求No.1171106603

計測・試験・光学
検査・試験

常時モニタリングを実現

落下粒子パーティクルモニタ

株式会社インテクノス・ジャパン
東京都渋谷区千駄ヶ谷5-15-5　DSビル

　各種の工程に適した落下粒子パーティクルモニタ「APMON」。設置することで、品質に影響を与える粗大粒子の常時モニタリングを可能にする。発塵警報やクリーニング後の効果計測にも利用できる。測定間隔は5分。

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落下粒子パーティクルモニタ
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